（1）在外延片的均匀度得到控制以前，研发快速低成本芯片分选工艺和设备。
（2）随着W级功率LED技术的发展，传统LED产品参数检测标准及测试方法已不能满足照明应用的需要，须开发全新的测试标准和方法，包含更多的与照明相关的光学内容。
（3）在LED系统寿命测试中，研发LED系统的长期性能和寿命快速测定评价技术。
（4）照明用LED是处于大电流驱动下工作，这就对其提出更高的可靠性要求。传统LED的筛选方式不合适照明用大功率LED,必须开发新的筛选试验办法，剔除早期失效品，保证产品的可靠性。
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